Handmikroskop AF7915MZTL

Als Teil der Long Working Distance (LWD)-Serie eignet sich das AF7915MZTL mit seinem grossen Arbeitsabstand und dem 10-140-fachen Vergrösserungsbereich für eine Vielzahl von Anwendungen, bei denen ein grösserer Abstand zum Objekt oder ein breiteres Sichtfeld erforderlich ist. Mit der Funktion Erweiterter Dynamikbereich (EDR) können Details in dunkleren oder helleren Bereichen des Objekts durch Stapeln von Bildern mit unterschiedlichen Belichtungsstufen sichtbar gemacht werden. Die Funktion Erweiterte Tiefenschärfe (EDOF) stapelt automatisch Bilder mit unterschiedlichen Schärfegraden, um die Tiefenschärfe auf rauen oder unebenen Oberflächen zu verbessern. Die AMR-Funktion ist besonders wichtig, wenn die Messfunktionen häufig verwendet werden. Der eingebaute Polarisationsfilter macht dieses Modell ideal für die Arbeit mit glänzenden oder reflektierenden Objekten wie Metall, Kunststoff, Glas, Schmuck, Elektronik usw.